ESD測試裝置可以模擬和測量各種靜電放電情況₪╃▩₪·，在實驗室環境中對電子裝置進行靜電放電測試☁☁·▩。透過模擬真實的ESD事件₪╃▩₪·，測試裝置可以評估電子裝置的抗ESD能力₪╃▩₪·，並幫助制定和改進相應的保護措施☁☁·▩。靜電放電對於電子裝置來說是一個嚴重的威脅☁☁·▩。靜電放電是指當兩個物體之間存在電荷不平衡時₪╃▩₪·，突然釋放出的能量☁☁·▩。對於電子裝置來說₪╃▩₪·，靜電放電可能導致裝置失效₪◕·₪、損壞甚至報廢☁☁·▩。因此₪╃▩₪·，有效地防止和控制靜電放電對於保護電子裝置至關重要☁☁·▩。為了保護電子裝置免受靜電損害₪╃▩₪·，ESD測試裝置應運而生☁☁·▩。它的功能◕↟☁：1₪◕·₪、靜電發生...

探針臺是一種實驗室裝置₪╃▩₪·，用於支援₪◕·₪、定位和操縱各種探針或感測器☁☁·▩。它提供了一個穩定的平臺₪╃▩₪·，用於安裝和操作探測器或感測器₪╃▩₪·，以便進行實驗或測量☁☁·▩。一₪◕·₪、探針臺的規格1₪◕·₪、尺寸◕↟☁：尺寸可以根據實際需求進行選擇₪╃▩₪·，通常有不同的規格可供選擇₪╃▩₪·，以適應不同尺寸和型別的探測器或感測器☁☁·▩。2₪◕·₪、移動方式◕↟☁：通常具有微米級的移動精度₪╃▩₪·，可以透過手輪₪◕·₪、電機或氣動裝置進行精確的位置調節和移動控制☁☁·▩。3₪◕·₪、行程範圍◕↟☁：行程範圍是指能夠沿某一軸線移動的距離₪╃▩₪·，通常從幾毫米到幾十釐米不等☁☁·▩。4₪◕·₪、解析度◕↟☁：解析度是指其能夠進行微小位移的能力...

溫控探針臺是一種用於測量和調節溫度的裝置☁☁·▩。它通常由一個溫度感測器和一個控制系統組成₪╃▩₪·，可以在許多應用中使用₪╃▩₪·，包括實驗室₪◕·₪、工業生產和醫療裝置☁☁·▩。下面將介紹它的原理₪◕·₪、應用領域以及優點☁☁·▩。工作原理是基於熱力學原理和電子技術☁☁·▩。它的核心是溫度感測器₪╃▩₪·，可以透過不同的方法進行測量☁☁·▩。其中常見的是熱敏電阻(RTD)和熱電偶(TC)☁☁·▩。這些感測器會將溫度轉換為電訊號₪╃▩₪·，並將其傳輸到控制系統中進行處理☁☁·▩。控制系統會比較實際溫度和目標溫度₪╃▩₪·，然後根據差異來調整加熱或冷卻元件的輸出₪╃▩₪·，以達到穩定控制溫度的目的☁☁·▩。溫控探...

全自動探針臺是一種能夠自動執行多種測試任務的高精度測量儀器☁☁·▩。透過搭載多個探頭和程式控制模組₪╃▩₪·，實現對微小尺寸的物體₪◕·₪、器件和元器件的測量和測試☁☁·▩。其中包括線寬₪◕·₪、線距₪◕·₪、面積₪◕·₪、厚度₪◕·₪、電阻₪◕·₪、電容₪◕·₪、電感₪◕·₪、電壓等引數的測試₪╃▩₪·，同時還可進行裝置的壽命測試₪◕·₪、可靠性測試和效能測試等☁☁·▩。全自動探針臺採用了先進的技術₪╃▩₪·，它在工作過程中不需要人工干預₪╃▩₪·，整個探測過程全部自動化☁☁·▩。這不僅提高了生產效率₪╃▩₪·，更可以大幅降低工人的勞動強度和生產成本☁☁·▩。在應用方面₪╃▩₪·，廣泛應用於各個領域₪╃▩₪·，如地質勘探₪◕·₪、生物科技₪◕·₪、材料科學等₪╃▩₪·，開創了新...

8英寸手動探針臺是為半導體晶片的電引數測試提供一個測試平臺₪╃▩₪·，適用於對晶片進行科研分析₪╃▩₪·，抽查測試等用途☁☁·▩。廣泛應用於複雜₪◕·₪、高速器件的精密電氣測量的研發₪╃▩₪·，旨在確保質量及可靠性₪╃▩₪·，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本☁☁·▩。使用方式◕↟☁：1₪◕·₪、將樣品載入真空卡盤₪╃▩₪·，開啟真空閥門控制開關₪╃▩₪·，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上☁☁·▩。2₪◕·₪、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺₪╃▩₪·，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品☁☁·▩。3₪◕·₪、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下☁☁·▩。4₪◕·₪、顯微鏡切換為高倍率物鏡₪╃▩₪·，在大倍率...

opus探針臺是半導體行業重要的檢測裝備之一₪╃▩₪·，也是開展微電子與光電子原型器件研究的基本裝置₪╃▩₪·，可吸附多種規格晶片₪╃▩₪·，並提供多個可調測試針以及探針座₪╃▩₪·，配合測量儀器可完成積體電路的電壓₪◕·₪、電流₪◕·₪、電阻以及電容電壓特性曲線等引數檢測☁☁·▩。可用於各種有機半導體器件與奈米器件的電學效能評估₪◕·₪、電學行為分析等☁☁·▩。半導體測試可以按生產流程可以分為三類◕↟☁：驗證測試₪◕·₪、晶圓測試測試₪◕·₪、封裝檢測☁☁·▩。opus探針臺主要用於晶圓製造環節的晶圓檢測₪◕·₪、晶片研發和故障分析等應用☁☁·▩。晶圓檢測環節還需要使用測試儀/機₪╃▩₪·，測試儀/機用於檢...

溫控探針臺是一款使用溫度範圍在-190℃-600℃的儀器₪╃▩₪·，在我們使用時還可對樣品氣氛進行控制₪╃▩₪·，同時允許探針電測試₪◕·₪、光學觀察和樣品氣體環境控制☁☁·▩。這樣既可以保證₪╃▩₪·，即使在極低溫度下₪╃▩₪·，腔體也不產生結霜影響實驗₪╃▩₪·，又可以防止樣品發生氧化☁☁·▩。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔₪╃▩₪·，可往內充入氮氣等保護氣體₪╃▩₪·，來防止樣品在負溫下結霜₪╃▩₪·，或高溫下氧化☁☁·▩。此款透過槓桿式支架₪╃▩₪·，使用的是彎針探針☁☁·▩。相比傳統的直針探針₪╃▩₪·，這種設計不僅點針更準確₪╃▩₪·，而且點針力度更大₪╃▩₪·，和樣品的電接觸性更好☁☁·▩。作為半導體封測行業三大裝置之一₪╃▩₪·，探針...

晶片分選機是用來幹什麼的呢↟₪✘✘↟？我們知道LED晶片是LED器件的核心₪╃▩₪·，其可靠性決定了下游產品的壽命₪◕·₪、發光效能等☁☁·▩。LED封裝廠必須在採購階段明確晶片需求₪◕·₪、嚴格把控質量₪╃▩₪·，特別是波長₪◕·₪、亮度等指標☁☁·▩。如果在大量封裝結束後才發現產品效能只能滿足少數客戶需求₪╃▩₪·，將給企業造成直接損失☁☁·▩。為了在封裝前保證晶片的可靠性₪╃▩₪·，可以透過分選工序幫助把控晶片質量☁☁·▩。積體電路分選裝置應用於晶片封裝之後的FT測試環節₪╃▩₪·，它是提供晶片篩選₪◕·₪、分類功能的後道測試裝置☁☁·▩。分選機負責將輸入的晶片按照系統設計的取放方式運輸到測試模組完...