GP2000探針臺

一•₪•·、GP2000探針臺的產品資料₪☁₪◕•：

（1）機臺可輕鬆實現DC ~ THZ測量✘✘·。

（2）提供晶片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案✘✘·。

（3）一臺機器即可適配垂直探卡•₪•·、裂片後的藍膜或多Site晶片測試✘✘·。

（4）多孔吸附式載物臺設計╃☁✘✘☁，更好地相容薄晶圓固定✘✘·。

二•₪•·、GP2000探針臺的產品特點₪☁₪◕•：

（1）高品質顯微鏡搭配高解析度CCD系統╃☁✘✘☁，可直觀瞭解扎針情況╃☁✘✘☁，提高扎針 的準確性和效率✘✘·。

（2）可升級的高低溫系統╃☁✘✘☁，為晶片提供更 加成熟穩定的老化測試環境✘✘·。

（3）緊湊且可靠的機械設計 ╃☁✘✘☁，更適用於芯的測試及建模系統升級✘✘·。

（4）能夠根據未來需求╃☁✘✘☁，可提供多種升級 模組╃☁✘✘☁，輕鬆實現功能升級✘✘·。

（5）短軸式拉桿設計╃☁✘✘☁，將更加符合新一 代晶片系統測試的需求✘✘·。拉桿在任 意位置可停留•₪•·、極限位置能快速鎖 定•₪•·、分離位可固定╃☁✘✘☁，將進一步防止誤操作╃☁✘✘☁，提高測試效率╃☁✘✘☁，節省成本✘✘·。

三•₪•·、公司介紹₪☁₪◕•：

南京芯測軟體技術有限公司╃☁✘✘☁，專業打造半導體晶圓級測試及晶片檢測等系統整合平臺✘✘·。公司致力為客戶提供半導體測試裝置國產化改造╃☁✘✘☁，以及系統整合的一站式平臺服務✘✘·。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試╃☁✘✘☁，器件測量系統軟硬體的最好供應商╃☁✘✘☁，以滿足國內使用者需求╃☁✘✘☁，開發半導體測試裝置和系統整合軟體定製化服務✘✘·。

南京芯測的在專注於在片測試系統裝置經銷與晶圓在片測試軟體的研發✘✘·。產品包括₪☁₪◕•：手動探針臺•₪•·、半自動探針臺•₪•·、全自動探針臺•₪•·、矽光探針臺•₪•·、射頻探針臺•₪•·、高低溫探針臺•₪•·、除此之外涉及經銷ESD測試系統•₪•·、封裝及工藝檢測裝置等✘✘·。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試•₪•·、射頻微波器件測量╃☁✘✘☁，大功率器件測試•₪•·、微組裝封裝工藝檢測•₪•·、失效分析•₪•·、材料測試等應用行業✘✘·。

GP2000  8英寸半自動

搭載射頻探針座實物照片