追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售後完整的服務體系
誠信經營質量保障價格實惠服務完善詳細介紹
GP300探針臺12英寸手動探針臺
GP300探針臺產品資料│•:
機臺可輕鬆實現DC ~ THZ測量▩·▩╃☁。
提供晶片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案▩·▩╃☁。
優異的三軸設計✘·•▩,保證I-V測試漏電精度達到fa等級▩·▩╃☁。
多孔吸附式載物臺設計✘·•▩,更好地相容薄晶圓固定▩·▩╃☁。
高品質顯微鏡搭配高解析度CCD系統✘·•▩,可直觀瞭解扎針情況✘·•▩,提高扎針的準確性和效率▩·▩╃☁。
可升級的高低溫系統✘·•▩,為晶片提供更加成熟穩定的老化測試環境▩·▩╃☁。
緊湊且可靠的機械設計✘·•▩,更適用於晶片的測試及建模系統升級▩·▩╃☁。
能夠根據未來需求✘·•▩,可提供多種升級模組✘·•▩,輕鬆實現探針臺功能升級▩·▩╃☁。
短軸式拉桿設計✘·•▩,將更加符合新一代晶片系統測試的需求▩·▩╃☁。拉桿在任意位置可停留₪▩✘、極限位置能快速鎖定₪▩✘、分離位可固定✘·•▩,將進一步防止誤操作✘·•▩,提高測試效率✘·•▩,節省成本▩·▩╃☁。
溫控系統區域性細節圖--高溫低漏電載物臺
搭載直流和射頻探針座實物照片
搭載思儀太赫茲系統實物
產品諮詢