GP200探針臺

GP200探針臺讓您的晶片測試更加簡單

GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置╃₪✘│₪， 能夠在短時間內準確地完成測試要求▩₪│☁✘。 提供專業的測試方案╃₪✘│₪，能夠實現高品質的I-V╃✘、C-V╃✘、RF 等測試▩₪│☁✘。

l 機臺可輕鬆實現DC ~ THZ測量▩₪│☁✘。

l 提供晶片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案▩₪│☁✘。

l 優異的三軸設計╃₪✘│₪，保證I-V測試漏電精度達到f ji級▩₪│☁✘。

l 多孔吸附式載物臺設計╃₪✘│₪，更好地相容薄晶圓固定▩₪│☁✘。

l 高品質顯微鏡搭配高解析度CCD系統╃₪✘│₪，可直觀瞭解扎針情況╃₪✘│₪，提高扎針的準確性和效率▩₪│☁✘。

l 可升級的高低溫系統╃₪✘│₪，為晶片提供更加成熟穩定的老化測試環境▩₪│☁✘。

l 緊湊且可靠的機械設計╃₪✘│₪，更適用於芯片的測試及建模系統升級▩₪│☁✘。

l 能夠根據未來需求╃₪✘│₪，可提供多種升級模組╃₪✘│₪，輕鬆實現探針臺功能升級▩₪│☁✘。

l 短軸式拉桿設計╃₪✘│₪，將更加符合新一代晶片系統測試的需求▩₪│☁✘。拉桿在任意位置可停留╃✘、極限位置能快速鎖定╃✘、分離位可固定╃₪✘│₪，將進一步防止誤操作╃₪✘│₪，提高測試效率╃₪✘│₪，節省成本▩₪│☁✘。

GP200探針臺

南京芯測軟體技術有限公司╃₪✘│₪，專業從事半導體晶圓級測試╃₪✘│₪，封裝工藝及檢測等系統整合服務▩₪│☁✘。公司致力於供應國產自主可控半導體裝置╃₪✘│₪，打造國內晶圓級在片測試╃₪✘│₪，器件測量╃₪✘│₪，封裝工藝系統整合的穩定供應鏈╃₪✘│₪，同時公司與國內外多家半導體裝置公司合作╃₪✘│₪，為滿足國內使用者需求╃₪✘│₪，提供全面的定製化改造服務▩₪│☁✘。