8英寸手動探針臺是為半導體晶片的電引數測試提供一個測試平臺•╃☁▩₪，適用於對晶片進行科研分析•╃☁▩₪，抽查測試等用途▩✘╃₪│。廣泛應用於複雜•☁₪₪、高速器件的精密電氣測量的研發•╃☁▩₪，旨在確保質量及可靠性•╃☁▩₪，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本▩✘╃₪│。
使用方式✘₪：
1•☁₪₪、將樣品載入真空卡盤•╃☁▩₪，開啟真空閥門控制開關•╃☁▩₪，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上▩✘╃₪│。
2•☁₪₪、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺•╃☁▩₪，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品▩✘╃₪│。
3•☁₪₪、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下▩✘╃₪│。
4•☁₪₪、顯微鏡切換為高倍率物鏡•╃☁▩₪，在大倍率下找到待測點•╃☁▩₪，再微調顯微鏡聚焦和樣品x-y•╃☁▩₪，將影像調節清晰•╃☁▩₪，帶測點在顯微鏡視場中心▩✘╃₪│。
5•☁₪₪、待測點位置確認好後•╃☁▩₪，再調節探針座的位置•╃☁▩₪，將探針裝上後可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊•╃☁▩₪，再使用探針座X-Y-Z三個微調旋鈕•╃☁▩₪，慢慢的將探針移至被測點•╃☁▩₪，此時動作要小心且緩慢•╃☁▩₪，以防動作過大誤傷晶片•╃☁▩₪，當探針針尖懸空於被測點上空時•╃☁▩₪，可先用Y軸旋鈕將探針退後少許•╃☁▩₪，再使用Z軸旋鈕進行下針•╃☁▩₪，最後則使用X軸旋鈕左右滑動•╃☁▩₪，觀察是否有少許劃痕•╃☁▩₪，證明是否已經接觸▩✘╃₪│。
6•☁₪₪、確保針尖和被測點接觸良好後•╃☁▩₪，則可以透過連線的測試裝置開始測試▩✘╃₪│。
8英寸手動探針臺用途✘₪：
以往如果需要測試電子元器件或系統的基本電效能（如電流•☁₪₪、電壓•☁₪₪、阻抗等）或工作狀態•╃☁▩₪，研發人員一般會採用萬用電表的表筆去點測▩✘╃₪│。隨著電子技術的不斷發展•╃☁▩₪，對於精密微小（奈米級）的微電子器件（如IC•☁₪₪、wafer•☁₪₪、Chip•☁₪₪、LCDArray•☁₪₪、CMOSCameraModule•☁₪₪、Pitch微小的Connector）•╃☁▩₪，萬用表點到被測位置就顯得無能為力了▩✘╃₪│。於是一種高精度探針座應運而生•╃☁▩₪，利用高精度微探針將被測原件的內部訊號引匯出來•╃☁▩₪，便於其電性測試裝置（不屬於本機器）對此測試•☁₪₪、分析▩✘╃₪│。
